[過去ﾛｸﾞ] 【東京地検】ＮＥＤＯ検査、ニセ半導体見せすり抜け　スパコン詐欺 (333ﾚｽ)
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147: 名無しさん＠１周年 2018/01/26(金) 13:19:16.22 ID:YQuW6Ujl0(1)調 AA×
>>145


[240|320|480|600|100%|JPG|べ|ﾚｽ栞|ﾚｽ消]
147: 名無しさん＠１周年 [sage] 2018/01/26(金) 13:19:16.22 ID:YQuW6Ujl0 >>145 チップの樹脂を剥げば、50倍くらいの光学顕微鏡でロゴは確認できる。 まあ、NEDOの職員も誤魔化すとは思ってなかったんだろう。 このせいで、これからは審査が厳格化されてそのための費用や時間も嵩むことになる。 この詐欺師を厳罰に問うことで、模倣犯を出さないようにして、審査は緩いままというのが１番よいが。 http://asahi.5ch.net/test/read.cgi/newsplus/1516915632/147
チップの樹脂を剥げば倍くらいの光学顕微鏡でロゴは確認できる まあの職員も誤魔化すとは思ってなかったんだろう このせいでこれからは審査が厳格化されてそのための費用や時間も嵩むことになる この詐欺師を厳罰に問うことで模倣犯を出さないようにして審査は緩いままというのが１番よいが

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